STEINERT KSS® | XF L

Separar sucatas de metal por meio de componentes elementares: Sistema de classificação por raios X STEINERT KSS | XF L

Diferencie cobre de zinco pela fluorescência de raios X - mesmo em superfícies revestidas

No setor de laboratório, a análise por fluorescência de raios X (FRX) tem sido parte integrante da análise química já faz alguns anos. A tecnologia de fluorescência de raios X nos permite obter um conhecimento mais preciso sobre os materiais. Dessa forma, o nosso sistema de classificação STEINERT KSS | XF L usa a fluorescência de raios X (XRF) na detecção e na triagem do material a ser classificado com base na sua composição elementar. Em razão dos elementos presentes, o cobre pode ser diferenciado do bronze ou do zinco, por exemplo. Isso é possível mesmo quando as superfícies apresentam contaminação pesada, como geralmente ocorre em metais na incineração de lixo. Além disso, também se consegue identificar sucata de metal com revestimentos metálicos.

Apesar de essa tecnologia se referir unicamente à avaliação da superfície, os componentes de níquel, cobre e zinco em uma peça de bronze niquelada são facilmente identificados e podem, assim, ser usados como informação para decisão de classificação.

O sistema de classificação combinado STEINERT KSS | XF L reúne o sistema XRF com detecção 3D. Por meio da triangulação a laser, o objeto é detectado de forma precisa, permitindo, assim, o mapeamento de todos os sinais identificados. Ela também melhora a extração, o que reduz o consumo de ar comprimido de maneira significativa. Com larguras de trabalho disponíveis de 1.000 mm e 2.000 mm, o sistema de classificação por raios X STEINERT KSS | XF L opera de forma ideal na faixa de granulometria entre 10 e 120 mm.