STEINERT KSS® | XF L

Separar chatarra de metal según su composición elemental: sistema de separación por rayos X STEINERT KSS | XF L

Diferenciar entre cobre y zinc con fluorescencia de rayos X, incluso con superficies recubiertas

El análisis por fluorescencia de rayos X (RFA) lleva mucho tiempo formando parte de la analítica química de los laboratorios. La tecnología de fluorescencia de rayos X nos permite disponer de información más detallada sobre el material. Nuestro equipo STEINERT KSS | XF L detecta y separa mediante fluorescencia de rayos X (XRF), es decir, sobre la base de la composición elemental del material a separar. Por ejemplo, es capaz de diferenciar entre cobre y latón o zinc por los elementos que están presentes. Dicha detección es posible incluso cuando las superficies están muy sucias, como es habitual en metales procedentes de la incineración de residuos. Asimismo, es posible detectar chatarra de metal con recubrimientos metálicos.

A pesar de que esta tecnología se limita a valorar las superficies, los componentes de níquel, cobre y zinc contenidos en una pieza de latón niquelada se identifican con total claridad, de manera que el sistema puede considerar esta información al tomar decisiones de separación.

El sistema combinado de separación STEINERT KSS | XF L combina un sistema XRF con un sistema de reconocimiento 3D. Mediante triangulación láser se realiza una detección precisa de los objetos, lo que posibilita asignar las señales detectadas de forma inequívoca. Así, la descarga también mejora y en consecuencia se reduce el consumo de aire comprimido. Con los anchos de trabajo disponibles de 1000 mm y 2000 mm, el sistema de separación por rayos X STEINERT KSS | XF L funciona de manera óptima con granulometrías entre 10 y 120 mm.