STEINERT KSS LXF

Separar sucatas de metal por meio de componentes elementares: Sistema de classificação por raios X STEINERT KSS LXF

Diferencie cobre de zinco pela fluorescência de raios X - mesmo em superfícies revestidas

No setor de laboratório, a análise por fluorescência de raios X (FRX) tem sido parte integrante da análise química já faz alguns anos. A tecnologia de fluorescência de raios X nos permite obter um conhecimento mais preciso sobre os materiais. Dessa forma, o nosso sistema de classificação STEINERT KSS LXF usa a fluorescência de raios X (XRF) na detecção e na triagem do material a ser classificado com base na sua composição elementar. Em razão dos elementos presentes, o cobre pode ser diferenciado do bronze ou do zinco, por exemplo. Isso é possível mesmo quando as superfícies apresentam contaminação pesada, como geralmente ocorre em metais na incineração de lixo. Além disso, também se consegue identificar sucata de metal com revestimentos metálicos.

Apesar de essa tecnologia se referir unicamente à avaliação da superfície, os componentes de níquel, cobre e zinco em uma peça de bronze niquelada são facilmente identificados e podem, assim, ser usados como informação para decisão de classificação.

O sistema de classificação combinado STEINERT KSS LXF reúne o sistema XRF com detecção 3D. Por meio da triangulação a laser, o objeto é detectado de forma precisa, permitindo, assim, o mapeamento de todos os sinais identificados. Ela também melhora a extração, o que reduz o consumo de ar comprimido de maneira significativa. Com larguras de trabalho disponíveis de 1.000 mm e 2.000 mm, o sistema de classificação por raios X STEINERT KSS LXF opera de forma ideal na faixa de granulometria entre 10 e 120 mm.
 
Todos os sistemas com raios X da STEINERT são classificados como equipamentos de proteção total e satisfazem, assim, todos os padrões de segurança para garantir uma operação e um ambiente seguros.

  • KSS LXF = Sistema de classificação combinado detecção 3D e tecnologia XRF
  • Classificação com fluorescência de raios X de acordo com a composição elementar
  • Larguras de trabalho: 1.000 mm e 2.000 mm
  • Faixa de granulometria: de 10 a 120 mm